главная об институте проекты подразделения продукция услуги новости контакты
 
Наноцентр

Наноцентр

 

Зондовый микроскоп

 AVS Flash Player

You need to upgrade your Flash Player.

 

 

Сканирующий зондовый микроскоп «Solver NEXT»

Микроскоп позволяет проводить исследования:

  • топографии поверхностей материалов в режиме атомно-силовой микроскопии;

  • распределения латеральных сил (например, силы трения);

  • намагниченности образцов при использовании зондов с магнитным покрытием (Co);

  • распределения на поверхности проводимости, электрического заряда, потенциала (методом зонда Кельвина) при использовании зондов с проводящим покрытием (TiN);

  • вольт-амперной характеристики покрытий в точке;

  • проведение литографии.

Топографию проводящих образцов на микроскопе можно исследовать в режиме туннельной микроскопии. Направление исследований - анализ порошков, покрытий, статистическая обработка данных.

 

 

 

   
 
Оборудование наноцентра
 
 
Эмиссионный спектрометр
 
 
Рентгеновский дифрактометр
 
Трибометр

  Яндекс.Метрика